Dwa nowe systemy testujące urządzenia półprzewodnikowe

Testowanie nowych urządzeń półprzewodnikowych, takich jak węglik krzemu (SiC) i azotek galu (GaN), często wymaga skomplikowanych konfiguracji, których zbudowanie i kalibracja zajmuje dużo czasu.Inżynierowie i badacze potrzebują dokładnych wyników podczas testowania, aby projektować niezawodne produkty.

Grupa Microtest wprowadza na rynek dwa nowe systemy testujące: Quasar200 i Pulsar600. Te narzędzia testowe rozwiązują problem skomplikowanej konfiguracji dzięki technologii plug-and-play, która pozwala użytkownikom rozpocząć testowanie urządzeń półprzewodnikowych mocy bez konieczności budowania niestandardowych stanowisk testowych lub wykonywania skomplikowanego okablowania.Pomaga to laboratoriom i inżynierom zaoszczędzić czas podczas gromadzenia wiarygodnych, powtarzalnych danych.

Quasar200 przeznaczony jest do testowania standardowych i średniej klasy urządzeń półprzewodnikowych mocy wykonanych z krzemu (Si), azotku galu (GaN) i węglika krzemu (SiC).Koncentruje się na precyzyjnych pomiarach prądu stałego i przemiennego, dzięki czemu nadaje się do badań laboratoryjnych, charakteryzowania urządzeń i opracowywania arkuszy danych.

Pulsar600 jest przeznaczony do testów wysokoprądowych i dużej mocy, szczególnie falowników opartych na SiC i systemów motoryzacyjnych.Obsługuje testy zwarciowe i obciążeniowe do 1000 A DC i ponad 10 000 A AC, pomagając inżynierom zweryfikować wydajność i bezpieczeństwo modułów mocy nowej generacji stosowanych w pojazdach elektrycznych i zastosowaniach przemysłowych.

Systemy mierzą działanie urządzeń półprzewodnikowych pod wysokim prądem i napięciem.Quasar200 jest przeznaczony do testowania urządzeń krzemowych, GaN i SiC stosowanych w elektronice i systemach zasilania.Wykonuje szybkie i dokładne pomiary prądu stałego i przemiennego przy niskim poziomie zakłóceń.Pulsar600 rozszerza tę możliwość na zastosowania o bardzo wysokim natężeniu prądu, takie jak testowanie pojazdów i falowników, obsługujące napięcie do 1000 A DC i ponad 10 000 A AC.

Obydwa systemy prowadzą szczegółowe dzienniki audytu w celu śledzenia dokładności danych.Umożliwia to badaczom i firmom porównywanie wyników laboratoryjnych z testami produkcyjnymi na poziomie fabrycznym podczas opracowywania arkuszy danych lub kwalifikowania nowych urządzeń.

Bezpieczeństwo jest wbudowane w oba systemy.Obejmują one zamknięte obszary testowe i ochronę SocketSafe ipTEST, która oddziela zasilanie w przypadku otwarcia sprzętu lub wystąpienia awarii.Gniazda o niskiej indukcyjności redukują szumy elektryczne, poprawiając stabilność testu.


Kluczowe funkcje

Konfiguracja typu plug-and-play: gotowe do użycia systemy testowe, które eliminują potrzebę stosowania niestandardowych zestawów lub połączeń lutowanych.
Szeroka obsługa urządzeń: Kompatybilny z urządzeniami z krzemu (Si), azotku galu (GaN) i węglika krzemu (SiC).
Wysoka wydajność prądowa: Obsługuje testy bardzo wysokim prądem do 1000 A DC i 10 000 A+ AC, odpowiednie dla falowników SiC i systemów samochodowych.
Precyzja pomiaru: dokładność ±0,1% dla wszystkich przebiegów napięcia i prądu.